國(guó)外開發(fā)出可使用多種中子源的半導(dǎo)體軟錯(cuò)誤率評(píng)估方法

日期： 2023年06月27日　17:48 來(lái)源：科技部合作司  　　

由日本京都大學(xué)科研人員負(fù)責(zé)的產(chǎn)學(xué)協(xié)同軟錯(cuò)誤研究團(tuán)隊(duì)，開發(fā)了一種可使用不同中子源獲取半導(dǎo)體軟錯(cuò)誤率的方法�！　�

軟錯(cuò)誤率一般通過在地面上再現(xiàn)宇宙射線環(huán)境的特殊中子源進(jìn)行實(shí)驗(yàn)評(píng)估。而該方法則是通過將任意中子源的1個(gè)測(cè)量結(jié)果和數(shù)值模擬進(jìn)行組合求得軟錯(cuò)誤率。科研人員使用來(lái)自3個(gè)設(shè)施的7種類型中子源的測(cè)量值和高能粒子與重離子運(yùn)動(dòng)分析代碼程序PHITS（Particle and Heavy Ion Transport code System）評(píng)估軟錯(cuò)誤率，驗(yàn)證了該方法的有效性。采用這種方法，科研人員可以使用大量的通用中子源來(lái)評(píng)估軟錯(cuò)誤率，滿足日益增長(zhǎng)的軟錯(cuò)誤率評(píng)估需求。相關(guān)研究成果發(fā)表于國(guó)際學(xué)術(shù)期刊《IEEE Transactions on Nuclear Science》�！　�

本文摘自國(guó)外相關(guān)研究報(bào)道，文章內(nèi)容不代表本網(wǎng)站觀點(diǎn)和立場(chǎng)，僅供參考。